ace 2 X visSWIR
SWIR相机能捕捉人眼不可见的细节
短波红外相机适用于检查安全功能、检测灌装高度、照射复杂结构或探测隐藏物体等应用。
精巧设计
精巧的29 mm x 29 mm外壳,易于进行系统设计高分辨率和丰富细节
得益于高灵敏度的Sony(索尼)IMX990/991 SenSWIR芯片可见光 + SWIR
在波长范围为0.4 µm - 1.7 µm的可见和不可见光谱中采集图像visSWIR配件
适用于短波红外应用的一系列visSWIR组件
Pixel Correction Beyond(像素校正超越)功能
Pixel Correction Beyond(像素校正超越)是一种经过改进的动态缺陷像素校正功能。它利用我们自主开发的算法,能够纠正visSWIR相机中可能存在的像素缺陷(例如热像素和缺陷像素)。该功能可直接根据相机上的图像信息对当前图像进行动态校正。
More about Pixel Correction Beyondace 2 X visSWIR相机的功能
ace 2 X visSWIR相机可在短波红外(SWIR)范围内工作。在这一光谱范围内,许多材料的光学特性与在可见光范围下时的表现不同,从而实现在可见光波段下无法实现的应用。
透过表面看本质
在短波红外光谱范围内的光线可使许多材料变得透明。因此,短波红外(SWIR)相机可以透过表面看本质。例如,它可以检测水果和蔬菜中的缺陷,检查不透明容器中的灌装高度,或检查电子设备是否配置齐全。
温度检测
在140°C左右的温度下,SWIR红外相机可用于测量或估计物体的温度。在SWIR光谱范围内,不同的温度会产生不同的亮度。这一特性可用于检测焊缝或流程监控等。
SWIR光谱范围内的典型应用领域
SWIR光谱范围内的视觉系统应用种类繁多,覆盖从半导体检测和回收到食品质量检测和分拣,不一而足。
对采用SWIR技术的解决方案感兴趣?我们的应用工程师团队可以检查并测试您的使用案例。欢迎联系我们!